江蘇宿遷變壓器有載開關(guān)測(cè)試儀單相變壓器測(cè)試①單相測(cè)試主要用于測(cè)量單相變壓器的短路阻抗，在短路阻抗測(cè)量界面下選擇“5、單相變壓器測(cè)試”，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入短路阻抗參數(shù)設(shè)置界面，同圖五。在參數(shù)設(shè)置界面輸入相關(guān)參數(shù)后按“確認(rèn)”鍵，進(jìn)入測(cè)試界面，如圖十三：圖十三②接線方法短接變壓器的對(duì)側(cè)接線端子a-x。單相電源接儀器的“入IA”、“入IB”，黃色測(cè)試鉗一端接變壓器接線柱，另一端接儀器的“出IA”和“出Ua”；綠色測(cè)試鉗一端接變壓器接線柱，另一端接儀器的“出IB“和“出Uo”，如圖十四所示2、變壓器三相負(fù)載的測(cè)量 圖十四①測(cè)試方法在主菜單界面選擇“三相負(fù)載”菜單，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面，如圖十五： 圖十五按“選擇”鍵選擇輸入項(xiàng)；←、→ 鍵用來(lái)改變輸入位；↑、↓鍵用來(lái)改變輸入位數(shù)值的大??；按“返回”鍵退出參數(shù)設(shè)置界面；按“確認(rèn)”鍵保存當(dāng)前參數(shù)后即可進(jìn)入測(cè)量界面，如圖十六：圖十六在此測(cè)量界面按“打印”鍵可打印數(shù)據(jù)；按“存儲(chǔ)”鍵存儲(chǔ)數(shù)據(jù)（可選存儲(chǔ)介質(zhì)：本機(jī)、優(yōu)盤）；按“確認(rèn)”鍵鎖屏，按“取消”鍵重新測(cè)量，按“返回”鍵返回上一界面。說(shuō)明：A、顯示的“阻抗電壓” 、“額定損耗”均是指參數(shù)輸入折算溫度下的折算值。B、由于附加損耗中各部分損耗與頻率的關(guān)系各不同，而且各部分所占的比例也難分開，不好校正，當(dāng)負(fù)載試驗(yàn)電源的頻率與額定頻率相比其偏差小于5%時(shí)，對(duì)負(fù)載損耗的測(cè)量精度影響不大，滿足本儀器精度。 即負(fù)載損耗測(cè)試適用的電源頻率為50Hz±5%。當(dāng)試驗(yàn)頻率不等于額定頻率時(shí)（其偏差小于5%），負(fù)載損耗可以認(rèn)為近似相等。

江蘇宿遷變壓器有載開關(guān)測(cè)試儀波形分析1.從圖13可以看出，橋接前時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，已達(dá)50ms（是正常時(shí)間的三倍），并且不止是一相，而是三相差不多。這是典型的快速機(jī)構(gòu)儲(chǔ)能彈簧老化，速度變慢。2．從圖14中可以看到A相從單到雙（3-4）和雙到單（4-3）有對(duì)稱的過(guò)零段，是在單數(shù)側(cè)，且過(guò)渡電阻值從儀器上觀察遠(yuǎn)大于50Ω（超過(guò)50Ω可以看成開路）。這是典型的過(guò)渡電阻缺陷。吊檢后發(fā)現(xiàn)單數(shù)側(cè)過(guò)渡電阻已斷裂。3．圖15中這個(gè)波形是由于開始測(cè)試時(shí)，靈敏度選的比較高，又是由3-2方向（電感量增加）容易引起震蕩。適當(dāng)降低靈敏度由1-n方向測(cè)試結(jié)果正常。4． 從圖16中看出，A相波形較亂，打出的過(guò)渡電阻值僅0.3-0.5Ω，而且從1-7均如此。 吊檢發(fā)現(xiàn)A相切換開關(guān)引出線軟連接有斷股，造成A相過(guò)渡電阻被短接（未接死）?，F(xiàn)場(chǎng)處理后，波形正常。八、常見(jiàn)故障1．CPU板故障可能出現(xiàn)的波形（見(jiàn)圖17）。處理辦法：更換CPU板圖 17 2．儀器供電電壓過(guò)低可能出現(xiàn)的波形（見(jiàn)圖18）3．儀器自激振蕩可能出現(xiàn)的波形（見(jiàn)圖19）圖19處理辦法：試品充分放電后，由1-n方向測(cè)試，非測(cè)試?yán)@組良好的短路接地；必要時(shí)調(diào)整儀器的靈敏度即觸發(fā)電平。